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(19)国家知识产权局 (12)发明 专利申请 (10)申请公布号 (43)申请公布日 (21)申请 号 20221089693 0.4 (22)申请日 2022.07.28 (71)申请人 北京空间飞行器总体设计 部 地址 100094 北京市海淀区友谊路104 号 (72)发明人 张玉廷 张华 刘志佳 鲁帆  董亚凯  (74)专利代理 机构 工业和信息化部电子专利中 心 11010 专利代理师 田卫平 (51)Int.Cl. G06F 30/20(2020.01) G06F 111/04(2020.01) G06F 111/08(2020.01) G06F 111/10(2020.01) (54)发明名称 小样本约束下的SGEMP毁伤 概率评估方法及 系统 (57)摘要 本发明提供一种小样本约束下的SGEMP毁伤 概率评估方法及系统, 采用概率特性进行SGEMP 对卫星电子学系统的毁伤评估, 获得SGEMP对卫 星电子学系统毁伤概率; 与实 际SGEMP源和空间 电磁场的随机性更吻合, 提高了评估的准确性。 该毁伤评估 方法首先通过参数估计, 获得样本数 据的概率密度函数; 对于已知概率分布类型的样 本数据, 采用区间估计的方法获得概率密度函数 中未知参数的置信区间; 对于未知概率分布类型 的样本数据, 采用多参数寻优进行估计以获得其 概率密度函数; 然后进行毁伤概率计算。 该方法 针对实际样 本数据的小样本约束, 既可解决实际 工程应用中缺少大量数据的现实问题, 又可避免 进行大量的试验从而降低成本 。 权利要求书4页 说明书10页 附图4页 CN 115455644 A 2022.12.09 CN 115455644 A 1.小样本约束下的SGE MP毁伤概 率评估方法, 其特 征在于, 包括以下步骤: 步骤一: 通过参数估计, 获得样本数据的概 率密度函数; 对于已知概率分布类型的样本数据, 采用区间估计的方法获得概率密度函数中未知参 数的置信区间; 对于未知概率分布类型的样本数据, 采用多参数寻优进行估计以获得其概率密度函 数; 步骤二: 毁伤概 率计算 SGEMP对卫星电子学系统毁伤概 率的计算公式为: 其中: PD为SGEMP对卫星电子学系统毁伤概率; p(x)为步骤一所获得样本数据的概率密 度函数; xl和xu分别为设定的SGEMP对卫星电子学系统 毁伤评估参数x 取值范围的下限和上 限。 2.如权利要求1所述的小样本约束下的SGEMP毁伤概率评估方法, 其特征在于: 所述步 骤一中: 对于已知概率分布类型的样本数据, 采用区间估计的方法获得概率密度函数中未知参 数置信区间的过程 为: 201: 根据评估要求的准确率设置 置信度α, 置信度介于 0和1之间; 202: 令样本数据的个数为n,各样本数据分别为x ′1、 x′2…x′n; 其概率密度函数为P, 通 过求解下式分别获得概 率密度函数中未知参数的置信区间(a,b): P[a<Q(x′1,x′2,…,x′12; θ )<b]=1 ‑α 其中: θ 为所要估计的未知参数, Q(x ′1,x′2,…,x′n; θ )为随机量; 将各未知参数的置信区间代入概 率密度函数, 得到概 率密度函数的区间。 3.如权利要求2所述的小样本约束下的SGE MP毁伤概 率评估方法, 其特 征在于: 得到各未知参数的置信区间后, 将各未知参数的在各自对应置信区间的最大似然估计 值代入概 率密度函数, 进 而得到确定的概 率密度函数。 4.如权利要求1所述的小样本约束下的SGEMP毁伤概率评估方法, 其特征在于: 所述步 骤一中: 对于未知概率分布类型的样本数据, 采用多参数寻优进行估计以获得其概率密度函数 的过程为: 211: 对样本数据由小到大排列, 得到顺序统计量, 令顺序统计量中得第i个数据为xi(i =1,2,…,n); 212: 按顺序统计量估计第i个样本数据的可靠度R(xi): 213: 计算样本数据的概 率分布F(x): F(x)=1‑R(x)权 利 要 求 书 1/4 页 2 CN 115455644 A 2其中 214: 对F(x)做对数变换: 其中: γ为 位置参数, α 为形状参数, m为尺度参数; 215: 进行变量 替换, 建立线性关系: Y=mX+b 其中: Y为线性变换关系的输出, X为输入, b为系数; 令 Y中的元素为yi, 216: 进行参数寻优; 给定步长t和N, 其中N的选择, 需保证下述相关系数ρ表现出最大 值, 令: Xi=xi‑tk(k=1,2,…,N) 计算X与Y的相关系数ρ, 确定位置参数γ: 由此确定位置参数 217: 应用最小二乘法得到形状参数α 和尺度参数m的估计值: 218: 确定样本数据的概 率密度函数p(x): 样本数据的概 率密度函数p(x)为:权 利 要 求 书 2/4 页 3 CN 115455644 A 3

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